點(diǎn)線規(guī)污點(diǎn)規(guī)面積對(duì)比卡A4點(diǎn)規(guī)

• 更新日期：2025-09-14

主要用于品管部門判定污點(diǎn),是用來(lái)測(cè)量、對(duì)比手機(jī)外殼、LENS、DISPLAY等部件的點(diǎn)、劃痕的面積、直徑、寬度、長(zhǎng)度是否超過基準(zhǔn).精度高.本品已經(jīng)通過三星,摩托羅拉公司認(rèn)可.可根據(jù)客戶要求進(jìn)行定制.

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